SJ 50033.137-1997 半导体光电子器件GF216型橙色发光二极管详细规范
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ID： |
528866B7EE9C4807B0068446609F9338 |
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文件大小(MB)： |
0.43 |
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页数： |
9 |
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日期： |
2024-7-28 |
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SJ,中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5980 SJ 50033/137-97,半导体光电子器件,GF216型橙色发光二极管,详细规范,Semiconductor optoelectronic devices,Detail specification for orange-red,light emitting diode for type GF216,1997-06-17^ 1997-10-01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体光电子器件,GF216型橙色发光二极管详细规范 お50033/137-97,Semiconductor optoelectronic devices,Detail specification for orange-red,light emitting diode for type GF216,1范围,1.I 主题内容,本规范规定了军用GF216型橙色发光二极管(以下简称器件)的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,1.3.1 器件的等级,按GJB 33—85《半导体分立器件总规范》的规定,提供的质量保证等级为普军级(GP)、特,军级(GT)二级,2引用文件,GB 11499—89,GJB 33—85,GJB 128-86,SJ 2355-83,GB/T 15651-95,半导体分立器件文字符号,半导体分立器件总规范,半导体分立器件试验方法,半导体发光器件测试方法,半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件,3要求,3.I 详细要求,各条要求应按GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构与外形尺寸,器件的设计、结构应按GJB 33中3.5.1,3.5.3,3.5.4和3.5.7条及本规范的规定。外形,尺寸符合本规范图1的规定,3.2.1 管芯材料,管芯材料为磷碑化镇,3.2.2 外形尺寸及引出端识别(见图1),中华人民共和国电孑工业部1997-06-17发布1997-10-01 实施,—1 —,SJ 50033/137-97,L正极 2.负极,单位:mm,最 小标 称最 大ヽ最 小标 称最 大,A 7.20 — 7.65 F 0.40 一0.60,A： 4.85 一5.25 J 一0.80 一,— 0.45 —— K 一0.80 —,町） 5.80 一6.00 L 24.50 一一,林4.80 — 5.00 a 一45° —,e 2.40 — 2.50,图1,3.2.3 封装形式,金属/玻璃透镜空腔封装,见图1,3.2.4 引线长度,可按合同的规定（见6.2条）提供引线长度不同于规范图1规定的器件,3.3 引线材料和引线镀涂,引线材料为可伐,引线镀金,也可按照合同规定（见6.2条）,3.4 最大额定值和主要光电特性,3.4.1 最大额定值（见表1）,表1,Ifm,(mA) (mA),%,(V),F M,(mW),Tatnb,(匕),T stg,(じ),30 100 6 80 -55 .100 ~ 55-125,注:1）脉冲宽度0.1ms,占空比l/10o,3.4.2 主要光电特性（见表2,Tamb = 25匕）,2,SJ 50033/137-97,表2,名 称符 号条 件,数值,单位,最小最大,发光强度lv 1(= 10mA, ￠ = 0- 10 med,正向电压Vf 1(= 10mA 2.2 V,峰值发射彼长而1f= 10mA 610 635 nm,光谱辐射带宽4 I!?= 10mA 30 nm,反向电流Ir Vr = 6V 10 pA,半强度角81/2 1F= 10mA 5,3.5 标志,标志应符合GJB 33中3.7条的规定,4质量保证规定,4.1 抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定,4.1.I 表4Al分组进行检险和试验的器件可以用于A2、A3、A4分组的检验和试验,通过A,组检验的器件,可以作为B组和C组检验和试验抽样的母体,4.1.2 在做C组检验中的寿命试验时,制造厂有权选择已经过340h的B组寿命试验的样品,再进行660h的试验,以满足C组寿命试验1000h的要求,4.1.3 表6cl分组进行检验的器件,如果光电特性符合A2、A4分组的要求则可以用于C2分,组的检验和试验,4.2 筛选（仅对GT级）,筛选的步骤和条件应按GJB 33和本规范表3的规定,表3筛选的步骤和条件（仅对GT级）,步骤检验和试验,GJB 128,符号,极限值,单位,方 法条 件最小最大,1 内部目检,（封帽前）,2073 芯片完整,电极完整,2 高温寿命1032 Tstg=125じ，，=24h,3 热冲击,（温度循环）,1051 除低温T= -55V,循环20次外,其余按,试验条件B,4 恒定加速度2006 Yi 方向,196000m/s?,5 密封,细检漏,1071,a.试验条件H,最大漏率= 5X10-3,3,SJ 50033/137-97,续表3,步骤检验和试验,GJB 128,符号,极限值,単位,方 法条 件最小最大,b.粗检漏,Pa. cm3/s,b.试验条件C，氟油,125匕,6 髙温反偏（不适用）,7 中间光电参数测试,正向电压,反向电流,发光强度,SJ 2355.2,SJ 2355.2,GB/T 15651,lf= 10mA,Vr = 6V,310mA,夕=0°,%,Ir,ly 10,2.2,10,V,百,med,8 电老炼,（正向偏置）,1038 厶=30mA, t = 96h,9 最后测试,（老化后96h内完成,全部参数测试）,正……
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